SEM-EM8100F
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SEM-EM8100F, Risoluzione 1nm@30kV(SE), Ingrandimento 15x-800, 000x
È la versione di aggiornamento di EM8000, con accelerazione del tubo E-Beam aggiornata, varia modalità di vuoto, disponibile per osservare campioni non conduttori a bassa tensione senza sputtering, sistema operativo facile, conveniente e amichevole, piano di rimodellamento multiplo. È anche il primo SEM FEG che ha la risoluzione a 1 nm (30 kV).
